產(chǎn)品名稱(chēng)：日本大冢高速近場(chǎng)配光測量系統

高速近場(chǎng)配光測量系統 RH50

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高速近場(chǎng)配光測量系統RayHunter可用于評價(jià)光源單體和光學(xué)材料的配光。

RH50配光測量系統可對應微型LED等小型樣品。

可與光學(xué)模擬軟件配合使用，輕松且快速獲取2n空間內全方位的光線(xiàn)。50×50mm以上的尺寸請參照RH300/RH600/RH1000。

產(chǎn)品信息

特點(diǎn)

?僅此一臺即可搭載光學(xué)模擬軟件。

?超高速測量樣品原有的配光特性。*短17分鐘！

?可輕松·簡(jiǎn)單的可設置花費時(shí)間的樣品。

?樣品靜置狀態(tài)下即可測量，無(wú)需改變亮燈情況。

◆ 桌上型設備，操作簡(jiǎn)單，節省空間

◆ 可搭載光學(xué)模擬軟件

實(shí)測數據可藉由各種光學(xué)模擬軟件轉化為可利用的形式。

如、LightTools、ZEMAX、ASAP、TraceProなど

※LightTools、ZEMAX、ASAP、TracePro為其他公司的商標。

【 POINT 】 試作前即可把握不同距離下發(fā)光強度分布的差異。

◆ 超高速測量

【您的煩惱】想了解樣品原有的詳細光學(xué)特性，

 但是測定時(shí)間長(cháng)，需要在暗室進(jìn)行測量。

【RH50】 短時(shí)間內即可了解詳細的光學(xué)特性。

＜傳統方法＞ 2400分　→?。糝H50＞ 17分　約縮短1/140

◆ 位置調整簡(jiǎn)單

即使偏差數μm，可利用自動(dòng)平臺輕松調整。

◆ 測定時(shí)樣品靜止

檢出器由2軸驅動(dòng)，測定過(guò)程中樣品保持靜止。

【 POINT 】

?確保樣品無(wú)破損

?不斷線(xiàn)

?不改變亮燈位置

式樣

*1：條件 X：±90°、Y：±90°、測量間隔為 1°

*2： 依據相對強度的數據

測量案例

微型LED測量案例

測量1次即可實(shí)現所有解析。

任意距離都可確認亮點(diǎn)·暗點(diǎn)。

可直接觀(guān)測到在目標光線(xiàn)是否投射，非目標光線(xiàn)的方向。

測量案例

Near field配光測量的定義

Near filed配光測量可取得各多點(diǎn)的數據。