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  • 它是一種可以使用小角度光散射方法在原位實(shí)時(shí)分析聚合物和薄膜結構的設備。與使用 X 射線(xiàn)或中子的設備相比,可以評估更大的結構(微米級)。
  • 可以使用單個(gè)設備分析不同的組分,例如陽(yáng)離子和陰離子。 使用少量樣品即可進(jìn)行短時(shí)間、高分辨率的分析。
  • 可以通過(guò)靜態(tài)光散射法測量 dn/dc 來(lái)確定重均分子量。
  • 優(yōu)良分子量、慣性半徑和**維里系數可以使用靜態(tài)光散射方法測量。
  • 可以使用動(dòng)態(tài)光散射法和使用靜態(tài)光散射法測量?jì)?yōu)良分子量/慣性半徑/**維里系數的粒度/粒度分布(粒度/粒度分布)。
  • HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射輝度計 從低亮度到高亮度可以高速·高精度的測量的分光輻射亮度計。 使用電子冷卻型的線(xiàn)性陣列傳感器,通過(guò)大冢電子獨自的分光光學(xué)設計和信號處理電路的寬亮度范圍和波長(cháng)域,實(shí)現了低噪聲的高精度的測量。OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度
  • MCPD-9800/6800 OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800

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