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  • 國內總代粗糙度輪廓測量DSF-L800小坂臺階儀KOSAKA這是一款數字表面形狀和粗糙度測量機，能夠以高分辨率測量寬動(dòng)態(tài)范圍。位移檢測器中嵌入了一個(gè)數字傳感器，只需一次掃描即可同時(shí)測量“輪廓形狀”和“表面粗糙度”。更先進(jìn)的分析功能，平臺表面分析軟件和接觸點(diǎn)過(guò)濾器是標準設備。 標配探測器過(guò)載停止功能。
  • SEF800-N粗糙度輪廓測量機KOSAKA國內總代 它集成了表面粗糙度測量機和輪廓形狀測量機，一個(gè)單元可以進(jìn)行粗糙度起伏評估和形狀評估。表面粗糙度測量它支持國家標準。配備垂直軸和水平軸自動(dòng)校準功能。自動(dòng)測量到打印。輪廓形狀測量多截面形狀分析。強大的宏功能，“一鍵操作”方式。測量操作支持。
  • 國內總代KOSAKA表面粗糙度和輪廓形狀測量機SEF580A-G18D可以進(jìn)行“表面粗糙度”和“輪廓形狀”的兩種測量。 觸摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切換測量條件”，并且可以快速響應各種工件的測量。表面粗糙度測量可以在一次測量中分析具有不同標準的參數，并且可以順利過(guò)渡到新標準。輪廓形狀測量X軸上的*大測量采樣點(diǎn)數高達64，000，可實(shí)現高分辨率的長(cháng)距離測量。
  • 輪廓形狀測量機EF800小坂臺階儀kosaka總代這是一款高性能輪廓形狀測量機，具有超高速運動(dòng)和完整的分析功能。標配探測器過(guò)載停止功能。自定義功能允許您設置常用功能的快捷方式。重新測量功能允許輕松重新測量，并且不需要新的程序進(jìn)行重新測量。
  • KOSAKA小坂臺階儀輪廓形狀測量機EF550A內置分析宏支持為復雜的分析工作節省人力。該測量機具有很高的便攜性和安裝靈活性。 實(shí)時(shí)輸出功能提供測量的放大形狀數據。通過(guò)與輪廓剖面分析系統連接，可以進(jìn)行更**的分析。
  • KOSAKA小坂臺階儀小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng )立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專(zhuān)業(yè)廠(chǎng)商,主要有測定/自動(dòng)/流體三大部門(mén)。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來(lái)實(shí)現高精度表面形貌分析應用
  • 小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng )立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專(zhuān)業(yè)廠(chǎng)商,主要有測定/自動(dòng)/流體三大部門(mén)。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來(lái)實(shí)現高精度表面形貌分析應用
  • 小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng )立，日本**家發(fā)表光學(xué)幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術(shù)背景的專(zhuān)業(yè)廠(chǎng)商,主要有測定/自動(dòng)/流體三大部門(mén)。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來(lái)實(shí)現高精度表面形貌分析應用

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