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Otsuka大塚內置膜厚監測儀Otsuka大塚內置膜厚監測儀Otsuka大塚內置膜厚監測儀
詳情介紹：
內置膜厚監測儀
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高度**地測量與波長相關的多層薄膜！
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- 產品資訊
- 設備配置
- 測量例
產品資訊
特殊長度
- 使用光譜干涉法的膜厚計
- 配備高精度FFT膜厚分析引擎？（**號4834847）
- 可使用光纖構建免費的測量系統
- 可納入各種制造設備
- 可以實時測量膜厚
- 支持遠程操作和多點測量
- 使用長壽命，高度穩定的白色LED光源
測量項目
- 膜厚
用法
- 光學膜（硬涂層，AR膜，ITO等）
- 與FPD有關（抗蝕劑，SOI，SiO 2等）
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