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產品詳情
  • 產品名稱:Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型

  • 產品型號:
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型 該設備可離線輕松進行表面厚度不均勻性檢測,用于薄膜等的研發和質量控制的抽查。 整個表面可以快速、高精度地測量。
詳情介紹:

江蘇地區Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理銷售

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特點
  • 可以檢查薄膜等面內膜厚不均
  • 高速、高精度地測量整個表面
  • 由于我們是薄膜厚度測量的專業制造商,我們可以提供全 面的支持
  • 通過光譜測量實現高精度薄膜厚度測量
  • 硬件和軟件的原始設計

 

線掃描圖像
即時分析 300mm 方形光譜數據,實現整個不均勻檢測和薄膜厚度測量

規格

測定範囲 0.7~300 μm
測定幅 250 mm
測定間隔 10 ms~
裝置サイズ(W×D×H) 459×609×927 mm
重量 60 kg
消費電力 AC100 V±10% 125 VA

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