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  • ? 高速0.5秒的測定速度,提高了測定效率 ? 簡(jiǎn)便地通過(guò)2種方法進(jìn)行機差補正 ? 模擬輸出(選配),對應X2,Y,Z的3通道模擬輸出,通過(guò)示波器能記錄,觀(guān)測波形
  • ? 可選擇切換5個(gè)測定角,從細微面到大面積均能測定 ? 內置模擬輸出端口,連接示波器后,可記錄數據、觀(guān)測波形 ? *高0.05ms的高速響應,從而能夠觀(guān)測閃爍光源的上升、下降響應特性
  • ? 高達`03秒的高速測定:通過(guò)*優(yōu)化的測定處理方式 ? 高精度色度測定:采用TOPCON獨有的校正補正技術(shù) ? 小型 輕量化設計:產(chǎn)品小型 輕量化設計。為削減檢測生產(chǎn)流水線(xiàn)構造成本做出貢獻 ? 六種的產(chǎn)品變化:二種類(lèi)的亮度測定范圍 四種類(lèi)的鏡筒畫(huà)角
  • ? 色度精度高:使用新開(kāi)發(fā)的光學(xué)濾片,實(shí)現了高達±0.008以?xún)鹊母呱染? ? *快1秒的高速測定:通過(guò)測定運算的*優(yōu)化處理,大幅縮短了測定時(shí)間*單純測定亮度時(shí) ? 搭載122萬(wàn)像素CCD: *多可測1,280×960個(gè)像素 ? 測定功能擴充 :測定程序增加了6種功能,大幅提高了測定與評價(jià)的實(shí)用性
  • ? 寬廣的測定范圍 : 0.005~1,000,000cd/m2 ? 追加Layer功能 : 可一次測量低亮度到高亮度 ? 色度精度高 : 使用新開(kāi)發(fā)的光學(xué)濾片,實(shí)現了高達±0.008以?xún)鹊母呱染? ? *快1.5秒的高速測定 : 通過(guò)測定運算的*優(yōu)化處理,大幅縮短了測定時(shí)間*單純測定亮度時(shí) ? 搭載140萬(wàn)像素CCD : *多可測1,376×1,024個(gè)像素 ? 測定功能擴充 : 測定程序增加了6種功能,大幅提高了測定與評價(jià)的實(shí)用性
  • ? 能測定從FPD到微弱發(fā)光的近紅外領(lǐng)域。 ? 高精度測定近紅外領(lǐng)域(600~1030nm)的分光分布。 ? 和本公司其他型號的分光輻射度計一并使用時(shí),能夠測定可見(jiàn)光~近紅外光(380~1030nm)的分光分布。
  • ? 分光測光方式下的高速度、高精度優(yōu)良值測定。 ? 無(wú)需使用輔助鏡,也能實(shí)現細微面、低亮度領(lǐng)域的高精度測定。 ? 電動(dòng)切換測定角(2°/1°/0.2°/0.1°)。 ? 高精度測定頻閃光源(搭載同步測定功能、積分時(shí)間延期功能)。 ? 使用標配應用軟件,可進(jìn)行豐富的數據處理及控制主機。
  • ? 超低亮度儀器,*低可測0.001 cd/m2 。 ? 量程寬廣,量程為0.001 – 300,000 cd/m2。 ? 無(wú)需使用輔助鏡,即能夠高精度測定細微面的低亮度領(lǐng)域。 ? 高精度測定頻閃光源(搭載同步測定功能、積分時(shí)間延期功能) ? 使用標配應用軟件,能夠進(jìn)行豐富的數據處理及主機控制。
  • ? 高速測定超低亮度 (0.0005 cd/m2 – ) ? 量程寬廣。量程為 (0.0005 – 300,000cd/m2) ? 無(wú)需使用輔助鏡,即能夠測定細微面的超低亮度。 ? 搭載同步測定功能及積分時(shí)間延時(shí)功能,因而能夠高精度測定頻閃光源。 ? 使用標配應用軟件,能夠進(jìn)行豐富的數據處理及控制主機。
  • ? 搭載LAN功能,從而實(shí)現生產(chǎn)線(xiàn)所必須的超高速測定(約0.4秒)。 ? 采用新型光學(xué)系統,減少了測定角內的靈敏度不均勻。 ? 超薄機身設計,適合搭載自動(dòng)測量機臺,在產(chǎn)線(xiàn)上使用。 ? 標準配置軟件開(kāi)發(fā)包。(SDK) * 軟件開(kāi)發(fā)包(SDK) 方便客戶(hù)自行編寫(xiě)LAN通信軟件時(shí)所使用的開(kāi)發(fā)包。 由頭文件、程序庫、抽樣程序等組成。調出所提供的模塊程序庫函數后,無(wú)需考慮網(wǎng)絡(luò )程序和通信協(xié)議, 即可進(jìn)行軟件的開(kāi)發(fā)。 此外,無(wú)需使用SDK,可通過(guò)客戶(hù)自行開(kāi)發(fā)的應用軟件,依靠通信協(xié)議,由同一網(wǎng)絡(luò )內的其他電腦來(lái)控制, 也可以用1臺電腦來(lái)控制多臺本產(chǎn)品。
  • ? 量程特別寬廣,寬至0.0005~5,000,000cd/m2。 ? 搭載FIX模式,可大幅縮短生產(chǎn)線(xiàn)上的連續測定時(shí)間(和本公司原有產(chǎn)品比較,可縮短1/2時(shí)間) ? 提升了靈敏度的均衡性能,從而能輕松測定LED芯片。 ? 裝上照度接口(選配件)后,還能夠測定照度(lx)。
  • ? 量程特別寬廣,寬至0.0005~5,000,000cd/m2。 ? 搭載FIX模式,可大幅縮短生產(chǎn)線(xiàn)上的連續測定時(shí)間(和本公司原有產(chǎn)品比較,可縮短1/2時(shí)間) ? 提升了靈敏度的均衡性能,從而能輕松測定LED芯片。 ? 裝上照度接口(選配件)后,還能夠測定照度(lx)。 ? 光譜波寬、半波寬5nm
  • 具HDR,高速,操作性 新時(shí)代SR series
  • 分光光譜解析影像。開(kāi)發(fā)出眾所期待的2維的分光輻射計
  • 分光光譜解析影像。 開(kāi)發(fā)出眾所期待的成像的分光輻射計
  • BM-100 TOPCON拓普康- 輝度計TOPCON拓普康- 輝度計BM-100TOPCON拓普康- 輝度計BM-100TOPCON拓普康- 輝度計BM-100

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