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  • 產品名稱:OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統

  • 產品型號:
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統 熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統。 1從粒子的取出到測量的系統化。 可以測量10μm的粒子。 支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量 OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
詳情介紹:
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
基于與NIMS共同開發的單粒子診斷法*的測定是可能的。
國立研究開發法人物質·材料研究機構。

與廣崎尚登法羅、武田隆史研究員的共同研究

熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統。
1從粒子的取出到測量的系統化。
可以測量10μm的粒子。
支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量

OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統

測量項目。
量子效率(量子收獲率)。
發光光譜。
激發光譜。
溫度特性


単粒子診斷法による測定の流れ
蛍光體を合成後、勵起光照射   1粒子採取   蛍光體の特性を測定

 

勵起?発光スペクトル測定顕微ユニット

勵起?発光スペクトル測定顕微ユニット

 

量子効率(量子収率)測定ユニット

量子効率(量子収率)測定ユニット




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