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  • 產品名稱：日本大冢高速LED光學特性儀

  • 產品型號：LE-SERIES-LE-5400
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400
詳情介紹：

高速LED光學特性儀　LE SERIES

高速LED光學特性儀 LE seriesLED的光學特性評價可同產線的控制信號同步，能在線高速運行的裝置。
LE-5400提供NG判定或級別分類等品質管理所必要的光學特性信息

 

 

 

  

 

 

 

 

 

產品信息

特　點

? 與產線的控制信號同步
? 通過光纖的自由的測試系統
? 實現*短2ms～的光譜測量（LE-5400）
? 同以往的產品相比，測量?演算?評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型 

測量項目

三刺激值（kX, kY, kZ）*

〔JIS Z 8724〕

色度坐標(u, v)

〔CIE 1960UCS〕

色度坐標(x, y)

〔JIS Z 8724〕

色度坐標(u', v')

〔CIE 1976UCS〕

主波長（Dominant）和刺激純度（Purity）

〔JIS Z 8701〕

相關色溫度和Duv

〔JIS Z 8725〕

演色性評價數（Ra, R1～R15）

〔JIS Z 8726〕

峰值（λmax）的波長、高度、半值幅

 

**峰值的波長和高度

 

積分值（Summation）

 

重心波長

 

指定波長的高度

 

相比峰值波長的短波長側、長波長側的積分值

 

*　亮度(kY)的值，因測量的LED和檢出部的光學系不同，
 只有在校準(距離、位置、方向)中有再現性時才算有效。

規格式樣

LE-Series

分光方式

光柵分光 F=3 f=135 mm

感光元件

CCD    (電子制冷)

測量波長范圍

380    ~ 960 nm

300    ~ 800 nm

330    ~ 1100 nm

350    ~ 930 nm

波長精度※1

±0.3    nm※2

±0.3    nm※2

±0.5    nm※2

±0.3    nm※2

光纖規格※3

長約2m，金屬包覆，固定口徑約12mm，
     與LED間的距離通常為2 ~ 8mm左右(視LED指向性而不同)

功率

*大100VA

尺寸

280（H） × 296（D） × 160（W）mm

重量

約10kg

※1波長校正用光源對汞物理輝線之確認值。
※2JIS Z 8724規格。
※3可變更光纖尺寸、長度

設備構成

 LE_01.jpg

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