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  • 產品名稱：Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型

  • 產品型號： FE-300薄膜類型
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型
詳情介紹：

膜厚計FE-300

它是一種緊湊且低成本的膜厚計，可以通過高精度光學干涉法輕松測量膜厚。
我們采用了一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，從而實現了穩定的數據采集。
通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學常數。





  • 產品資訊
  • 原理
  • 規范
  • 設備配置

產品資訊

特殊長度
  • 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
  • 使用反射光譜進行膜厚分析
  • 緊湊且價格低廉，實現了非接觸，無破壞的高精度測量
  • 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
  • 使用峰谷法，頻率分析法，非線性*小二乘法，優化法等，可以進行多種膜厚測量。
  • 通過非線性*小二乘法的膜厚分析算法，可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。

 

測量項目
  • **反射率測量
  • 膜厚分析（10層）
  • 光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）

 

測量目標
  • 功能膜，塑料
    透明導電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護膜，硬質大衣，防指紋等
  • 半導體
    化合物半導體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍寶石等。
  • 表面處理
    DLC涂層，防銹劑，防霧劑等
  • 光學材料
    濾鏡，增透膜等
  • FPD
    LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封劑）等
  • 其他
    硬盤，磁帶，建筑材料等
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