UENOSEIKI上野精機株式會社：半導體設備

UENOSEIKI上野精機株式會社：半導體設備自1972年3月創業以來，一直以半導體制造裝置的開發、設計、制造、銷售、維護為一體的系統，作為支撐半導體產業的個性企業持續成長。我們經常注意的是，提供“對顧客有魅力的商品”、“讓顧客滿意的服務”、“讓顧客放心的支持體制”。

并且，活用到現在為止的實際成果和經驗，作為更能挑戰的提案型企業，為了能遵從大家的期待，今后我們也會努力，邁進。無論如何，今后也請多多指導和關照。

UENOSEIKI上野精機株式會社：半導體設備

2020年，日本移動通信將進入5G時代。通信速度大幅上升，各種各樣的東西與通信網絡相連的近未來的社會（IoT）即將到來。

與此同時，智能手機、智能手表、智能玻璃、汽車等我們身邊的產品正在急速進化，預計上野精機對高品質半導體、電子零件檢查裝置的需求將進一步提高。

我們以“NEXT ONE～頑強的挑戰～”為口號，向著新時代不斷進化。

UENOSEIKI上野精機株式會社：半導體設備

UENOSEIKI上野精機株式會社：半導體設備

測試激光

標記生產性產品尺寸詳細信息

LT-evo

零件

進紙器

管，管

（option）



磁帶&

卷盤



6面檢查



可能的



option



70000

UPH



0.4x0.2mm

~

TO-220



詳細信息

LT36

零件

進紙器

管，管

（option）



磁帶&

卷盤



6面檢查



*多16個同測



option



測試時間

根據同一測量



0.4x0.2mm

~

TO-220



詳細信息

LT-Hot

零件

進紙器

管，管

（option）



磁帶&

卷軸

Bin



6面檢查



常溫

高溫試驗



option



溫度，測試

根據時間



0.4x0.2mm

~

TO-220



詳細信息

RT

晶片

6,8,12”



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



option

背面電極

雙面電極



option



30000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



詳細信息

RT-Tray

晶片

6,8,12”



托盤

（JEDEC）

（Waffle）



6面檢查

（透明體內部

也可以檢查）



的下界



的下界



20000

UPH



1x1mm

~

10x10mm



詳細信息

RT-Wafer

晶片

6,8,12”



晶片

6,8”

托盤

（JEDEC）

（Waffle）



6面檢查

（透明體內部

也可以檢查）



的下界



的下界



20000

UPH



0.5×0.5 mm

~

10x10mm



詳細信息

RS-evo

晶片

6,8,12”



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



option



option



70000

UPH



0.4x0.2mm

~

10x10mm



詳細信息

RST

晶片

6,8,12”



磁帶和卷軸

（帶寬單點切換option）



6面檢查

（IR option）



option



option



50000

UPH



0.4x0.2mm

~

12×12 mm



詳細信息

RV-evo

晶片

6,8”



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



的下界



的下界



60000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



詳細信息

TS-evo

晶片

8,12”



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



option



option



50000

UPH



0.4x0.2mm

~

12×12 mm



詳細信息

WS-evo

晶片

12,8”



晶片

12,8”



6面檢查

（IR option）



的下界



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

15x15mm



詳細信息

RP124

晶片

6,8”



晶片

6,8”



6面檢查

（IR option）



電氣測試

在工作空間的邊緣

光學測試

雙面電極



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



詳細信息

RV320

晶片

6,8”



磁帶&

卷盤

（正反反轉）



6面檢查

（IR option）



電氣測試

在工作空間的邊緣

光學測試



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



詳細信息

RHR-evo

晶片

6,8,12”

零件進料器打開



磁帶和卷軸

管，管



6面檢查



常溫→高溫→常溫測試



option



24000

UPH



1x1mm

~

8x8mm



詳細信息

LV-evo

托盤

（Waffle）

※JEDEC option

零件進料器打開



托盤

（Waffle）

※JEDEC option



6面檢查



的下界



的下界



36000

UPH



0.4x0.2mm

~

10x10mm



詳細信息

TR-Tray

托盤

（JEDEC）

（Waffle）



托盤

（JEDEC）

（Waffle）



6面檢查

（IR option）



的下界



option



36000

UPH



1x1mm

~

15x15mm



詳細信息

TR-Tape

托盤

（JEDEC）

（Waffle）



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



option



option



36000

UPH



1x1mm

~

15x15mm