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  • 光譜分布測量系統GP系列
    一種測量照明設備的配光特性的設備。 ?使用內部開發的分光鏡可以實現高精度的測量！ -可以與配光數據一起測量顏色！- 即使在光譜測量中，也可以實現相當于照度計的高速測量！ ?根據配光測量結果可以進行照明率分析！!! -符合標準的測量系統！ ?也可以由測量基準部門提供技術支持！ 該設備可處理從室內照明到泛光燈的各種照明設備，并滿足多種用途的需求。
  • 超快光譜干涉型測厚儀
    它以超高速，實時，高精度的晶片和樹脂非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過程。
  • 光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S
    除了可以進行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實現自動可變測量機制來支持所有類型的薄膜。除了常規的旋轉光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供自動連接/分離機制，還提高了測量精度。 　
  • 膜厚計FE-300
    它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計，可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現膜厚測量。 我們采用了一體式的機殼，在主機中容納了必要的設備，從而實現了穩定的數據采集。 通過以低價獲得優良反射率可以分析光學常數。 　
  • 多通道光譜儀MCPD-9800
    多功能多通道光譜檢測器，支持紫外線至近紅外區域。光譜光譜至少可以在5毫秒內測量。標準光纖無需指定樣品類型即可支持各種測量系統。除了顯微光譜，光源發射，透射/反射測量之外，還可以通過與軟件結合來支持對象顏色評估，膜厚測量等。
  • OTSUKA大冢高靈敏度光譜輻射儀HS-1000
    OTSUKA大冢高靈敏度光譜輻射儀HS-1000
  • 多通道光譜儀MCPD系列，用于膜厚測量
    多通道光譜儀MCPD系列，用于膜厚測量
  • Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
    Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
  • 線掃描膜厚儀Otsuka大塚
    線掃描膜厚儀Otsuka大塚線掃描膜厚儀Otsuka大塚線掃描膜厚儀Otsuka大塚
  • SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚
    SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚SF-3分光干渉式晶圓膜厚儀Otsuka大塚
  • 晶圓在線測厚系統GS-300Otsuka大塚
    晶圓在線測厚系統GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統GS-300Otsuka大塚晶圓在線測厚系統GS-300Otsuka大塚
  • Otsuka大塚內置膜厚監測儀
    Otsuka大塚內置膜厚監測儀Otsuka大塚內置膜厚監測儀Otsuka大塚內置膜厚監測儀
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型
    Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型
    Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300
    Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300
  • OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚
    頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光學常數） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外） 區域傳感器的**機制 易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
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